本申请公开了一种单晶体管结构、多晶体管结构以及电子装置,所述单晶体管结构包括:衬底;位于所述衬底同一侧的沟道区、源区和漏区;所述沟道区在延伸方向上具有相对的第一端和第二端;所述源区与所述第一端电接触,所述漏区与所述第二端电接触;位于所述源区与所述漏区之间的栅极,所述栅极包围部分所述沟道区,所述沟道区与所述栅极相对的区域之间具有绝缘层;沟道电极,所述沟道电极与所述栅极露出的所述沟道区电接触,所述沟道电极与所述沟道区被所述栅极包围的部分有交叠部分,且所述沟道电极与所述栅极隔绝绝缘。采用本申请技术方案所述的单晶体管结构或多晶体管结构,能够降低集成电路的面积,提高集成度。
| 专利所属地区 | 专利类型 | 专利号/申请号/登记号 | 专利授权日期 | 专利证书图片 |
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| 中国 | 发明专利 | CN112993040B |