磷化铟(InP)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)等衬底位错密度、晶圆均匀性难以达到国际先进水平;大尺寸外延生长过程中晶格失配、应力缺陷难以抑制,直接造成激光器、探测器芯片良率偏低,高端衬底与外延材料进口依赖度高。
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磷化铟(InP)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)等衬底位错密度、晶圆均匀达到国际先进水平;大尺寸外延生长过程中晶格失配、应力,激光器、探测器芯片良率提升
达标的半导体衬片