芯片、焊料、基板、光学胶之间热膨胀不匹配,高低温循环下产生界面应力,引发脱粘、光路偏移、焊点疲劳;光学胶、隔离器晶体、镀膜层长期工作老化,出现光功率缓慢衰减,加速老化测试与寿命预测模型不完善
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芯片、焊料、基板、光学胶之间热膨胀匹配,降低老化测试与寿命预测模型不完善
光电封装界面热膨胀系数失配与长期可靠性